Elmitec公司各种LEEM/PEEM

 

 


     Elmitec公司的光电子显微镜(PhotoElectron Emission Microscope PEEM)及低能量电子显微镜(Low Energy Electron Microscope LEEM)、

拥有最极高的空间分辨率(3nm)和时间分辨率(0.01s),广泛应用于结晶成长过程,相转移,吸着,扩散,化学反应、磁性体研究等诸多科研领域。


LEEM III



   LEEM-III
系统

  • 成像功能:明,暗视野成像,镜面成像,热电子成像,光电子成像
  • 空间分辨率:<8nm(保证)、达到4.6nm(16/84% criteria)
  • 样品的电子能量:-5 to 500 eV
  • 视野: 2 - 80 μm (up to 150 μm in PEEM mode)
  • 扩大率: 500 - 20000
  • 本底真空度: 2 x 10-10 Torr
  • 样品温度:室温~1800K(短时间的2000K可能)

LEEM-IV


   
   LEEM-IV
系统

  • 低价格
  • 操作简单
  • 完全磁场屏蔽
  • LEEM/LEED和PEEM功能自动控制
  • 空间分辨率:< 20 nm
  • 视野:3-75 μm、(PEEM:3-85 μm)

LEEM-V



   LEEM-
V系统

  • 成像功能:明,暗视野成像,镜面成像,热电子成像,光电子成像
  • 空间分辨率:< 8nm(保证)、达到4.9nm(16/84% criteria)
  • 样品的电子能量:-5 to 500 eV
  • 视野: 1 - 70 μm (up to 100 μm in PEEM mode)
  • 扩大率: 570 - 40000
  • 本底真空度: < 2 x 10-10 Torr
  • 样品温度:室温~1800K(短时间的2000K可能)

ACLEEM


   ACLEEM(收差校正LEEM/PEEM)
系统

  • 理论空间分辨率<3 nm(8倍强度)
  • 收差校正和非收差校正的切换简单
  • 磁场型LEEM/PEEM扩张可能

PEEM III


   PEEM-III系统

  • 成像功能:热电子成像,光电子成像
  • 空间分辨率:<15nm(保证)、达到8.2nm(16/84% criteria)
  • 视野: 2 - 170 μm
  • 本底真空度: < 2 x 10-10 Torr
  • 样品温度:室温~1800K(短时间的2000K可能)

PEEMSPECTOR


   PEEMSPECTOR

  • 小型:直径66、长226、接口法兰ICF114
  • 操作简单,高性能,低价格
  • 空间分辨率< 30nm
  • 超高真空对应,可全体烘烤超至150℃
  • 整套设备的小型化,使得设备的移动很简单。完全采用静电型透镜。
    通过一个透镜的把手,可简单实现5 μm~500 μm范围的视野变换。

电子能量分析器



   电子能量分析器

  • 能量分辨率: < 0.2eV
  • 能量范围: >15eV
  • 通过改变光电子能量,可获得全范围的光电子能谱。

位移台



   位移台

  • ICF203接口法兰
  • XY=±5mm、Z=50mm
  • 倾角调整(二个方向):±2°
  • 电子冲击加热样品架
  • W/Re热电偶
  • 样品温度:室温~1500C°(瞬间2000C°可)、冷却可能
  • 耐电压:30kV
    选择项:电机控制XY驱动
电子自旋枪系统


  
电子自旋枪系统

  • GaAs电子枪腔体本底真空: <1x10-10 Torr
  • 电子自旋枪源: GaAs(Zn doped)
  • 活性化要素: Cs, O2
  • 电子能量: 20 kV
  • 照射光源: 30 mW Diode Laser,780 nm with circular polarizer and focusing lenses
  • 发射电流: 1 μA
  • 偏极角度: 180 deg
  • 普通照射源: thermal LaB6
  • 标准电流: 1 μA
  • 偏极度:27%
 

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